Münster 1999 – wissenschaftliches Programm
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HL: Halbleiterphysik
HL 7: Symposium: Koh
ärenzeffekte in der Halbleiterspektroskopie
HL 7.1: Fachvortrag
Montag, 22. März 1999, 16:00–16:30, Ger
Exzitonische Kohärenz in Halbleiternanostrukturen: Vergleich von Ergebnissen der zeitaufgelösten Speckleanalyse und des Vierwellenmischens — •Wolfgang Langbein1, Jørn M. Hvam2 und R Zimmermann3 — 1Institut für Experimentelle Physik EIIb, Universität Dortmund, Otto-Hahn Str.4, 44221 Dortmund — 2Mikroelektronik Centret, DTU Bldg. 345 east, DK-2800 Lyngby, Denmark — 3Institut für Physik der Humboldt-Universität zu Berlin,Hausvogteiplatz 5-7, D-10117 Berlin
Wir stellen hier die neue Methode der zeitaufgelösten Speckleanalyse zur Messung der zeitabhängigen Kohärenz von homogen sowie von inhomogen verbreiterten optischen Anregungen in Festkörpern vor. Dabei wird der Kohärenzgrad der resonant angeregten, sekundären Lichtemission aus den Intensitätsfluktuationen (speckles) über die Emissionsrichtung bestimmt. Aus der Dynamik von Intensität und Kohärenz der Emission ergeben sich Lebensdauer und reine Dephasierung der Anregungen. Diese lineare Methode ist im allgemeinen empfindlicher als nichtlineare Methoden wie Sättigungsspektroskopie oder Vierwellenmischen, und der signalgenerierende Prozess ist besser verstanden. Im speziellen wird die sekundäre Emission von Exzitonen in Halbleiterquantenfilmen untersucht. Es zeigt sich hier, das eine teilweise kohärente Emission durch die Kombination von inelastischer Streuung und statischer Unordnung durch Dickenfluktuationen vorliegt. Die Temperaturabhängigkeit der inelastischen und damit dephasierenden Streuung ist im Einklang mit akustischer Exziton-Phonon Streuung.