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M: Metallphysik

M 26: Postersitzung

M 26.20: Poster

Thursday, March 25, 1999, 15:00–19:00, Aula

Dreidimensionale Elektronenimpulsdichte in Cu/Ni-Schichtsystemen mit (γ, eγ)-Spektroskopie — •T. Sattler¹, K. Höppner¹, J.R. Schneider¹ und F. Bell² — ¹HASYLAB am DESY, Notkestr. 85, D-22603 Hamburg — ²Sektion Physik, Universität München, Am Coulombwall 1, D-85748 Garching

Die dreidimensionale Elektronenimpulsdichte (3D-EMD) in Cu/Ni-Schichtsystemen wurde unter Verwendung hochenergetischer (180 keV) Synchrotronstrahlung durch den koinzidenten Nachweis des comptongestreuten Photons mit dem Rückstoßelektron vollständig bestimmt. Diese Methode wird als (γ, eγ)-Spektroskopie bezeichnet. Der entsprechende dreifach-differentielle Wirkungsquerschnitt ist proportional zur 3D-EMD. Zur Minimierung der die Richtungsinformation des Rückstoßelektrons verfälschenden Vielfachstreuung sind dünnste, selbsttragende Probensysteme erforderlich. Das Experiment wurde am Undulatorstrahl PETRA 2 des Hamburger Synchrotronstrahlungslabors (HASYLAB) durchgeführt. Als Proben dienten zwei Cu/Ni-Schichten mit einem Flächenbelegungsverhältnis von 20/20 µg/cm² bzw. 30/10 µg/cm², die jeweils auf eine dünne, selbsttragende Kohlenstoffolie aufgedampft wurden. Zum Vergleich der experimentellen 3D-EMD wurden zudem zwei Proben aus der gleichen Produktionsreihe gemessen, die zuvor durch Diffusionstemperung bei 500^∘C in CuNi-Legierungen überführt worden waren.