Münster 1999 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 11: Poster (I)
O 11.28: Poster
Montag, 22. März 1999, 19:30–22:30, Aula
AFM-Untersuchungen von amorphen, teilkristallinen und kristallinen Phasen im System Mullit — •A.H. Ostadrahimi, J.B. Engelhardt, W. Raberg und K. Wandelt — Institut für Physikalische und Theoretische Chemie der Universität Bonn, Wegelerstr. 12, 53115 Bonn
Ein vielversprechendes Verfahren zur Herstellung von Mullit verläuft über Precursoren, die nach einem Sol-Gel-Verfahren mit der stöchiometrischen Zusammensetzung 3Al2O3-2SiO2 hergestellt werden. Im Mittelpunkt des Interesses steht die Entwicklung der Struktur -ausgehend von den Gelprecursoren- als Funktion der Temper-Temperatur. Hierzu wurde in dieser Arbeit Rasterkraftmikroskopie (AFM) im Kontakt- und Nichtkontaktmodus eingesetzt. Von 150oC bis 900oC bleiben die Precursoren amorph, bei etwa 1000oC entstehen kristalline γ-Al2O3-Phasen in einer nicht kristallinen SiO2-Matrix. Erst ab 1200oC findet Mullitbildung statt. Anhand der AFM-Untersuchungen lassen sich Änderungen der Oberflächenstruktur wie Phasensegregation, Überstrukturen sowie Kristallitbildung an verschieden präparierten Proben dieses Systems feststellen. Die Strukturumwandlungen werden im Lichte der Ergebnisse anderer Methoden, wie XRD, NMR, diskutiert.