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Münster 1999 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 20: Rastersondentechniken (I)

Tuesday, March 23, 1999, 16:15–18:30, S2

16:15 O 20.1 Ortsaufgelöste Phasengeschwindigkeitsmessungen akustischer
Oberflächenwellen beliebiger Polarisation
— •G. Behme, T. Hesjedal, E. Chilla und H.-J. Fröhlich
16:30 O 20.2 Wärmeübertrag in der UHV-Raster-Thermo-Mikroskopie — •Wolfgang Müller-Hirsch, Jürgen Middeke, Jürgen Parisi, L.V. Govor, A.YU. Oleanov und Achim Kittel
16:45 O 20.3 Untersuchung biologischer Proben mit dem kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkaftmikroskop unter Verwendung einer verbesserten Abstandskontrolle — •J. Kamp, B. Anczykowski, H. Fuchs, J. Seebach und H.-J. Galla
17:00 O 20.4 Das Depolarisations-NSOM: Nahfeldauflösung mit unbedampften Glasfaserspitzen. — •G. von Freymann, Ch. Adelmann, Th. Schimmel und M. Wegener
17:15 O 20.5 Eine dynamische Kraftabstandskontrolle für verschiedene nahfeldoptische Sonden — •A. Naber, H.-J. Maas, K. Razavi, U.C. Fischer und H. Fuchs
17:30 O 20.6 Erhöhung der Bandbreite einer Scherkraft-Abstandsregelung für ein optisches Nahfeldmikroskop — •M. Schüttler, M. Leuschner, M. Lippitz, M. Born, H. Giessen und W.W. Rühle
17:45 O 20.7 Optische Nahfeldmikroskopie mit mikrofabrizierten Apertursonden im Tapping-Mode — •Thomas Kalkbrenner, Markus Graf, Vahid Sandoghdar und Jürgen Mlynek
18:00 O 20.8 Photolumineszenz Raster Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit unbedampften Faserspitzen — •D. Pahlke, F. Poser, M. Pristovsek, E. Steimetz und W. Richter
18:15 O 20.9 Interne Reflexionsanordnung der Nahfeldmikroskopie mit der Tetraedersonde an metallischen Objekten — •U.C. Fischer, J. Ferber und H. Fuchs
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