O 20: Rastersondentechniken (I)
  Tuesday, March 23, 1999, 16:15–18:30, S2
  
    
  
  
    
      
        
          
            
              |  | 16:15 | O 20.1 | Ortsaufgelöste Phasengeschwindigkeitsmessungen akustischer Oberflächenwellen beliebiger Polarisation — •G. Behme, T. Hesjedal, E. Chilla und H.-J. Fröhlich
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              |  | 16:30 | O 20.2 | Wärmeübertrag in der UHV-Raster-Thermo-Mikroskopie — •Wolfgang Müller-Hirsch, Jürgen Middeke, Jürgen Parisi, L.V. Govor, A.YU. Oleanov und Achim Kittel | 
        
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              |  | 16:45 | O 20.3 | Untersuchung biologischer Proben mit dem kombinierten Rasterionenleitungs- und Scherkaftmikroskop unter Verwendung einer verbesserten Abstandskontrolle — •J. Kamp, B. Anczykowski, H. Fuchs, J. Seebach und H.-J. Galla | 
        
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              |  | 17:00 | O 20.4 | Das Depolarisations-NSOM: Nahfeldauflösung mit unbedampften Glasfaserspitzen. — •G. von Freymann, Ch. Adelmann, Th. Schimmel und M. Wegener | 
        
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              |  | 17:15 | O 20.5 | Eine dynamische Kraftabstandskontrolle für verschiedene nahfeldoptische Sonden — •A. Naber, H.-J. Maas, K. Razavi, U.C. Fischer und H. Fuchs | 
        
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              |  | 17:30 | O 20.6 | Erhöhung der Bandbreite einer Scherkraft-Abstandsregelung für ein optisches Nahfeldmikroskop — •M. Schüttler, M. Leuschner, M. Lippitz, M. Born, H. Giessen und W.W. Rühle | 
        
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              |  | 17:45 | O 20.7 | Optische Nahfeldmikroskopie mit mikrofabrizierten Apertursonden im Tapping-Mode — •Thomas Kalkbrenner, Markus Graf, Vahid Sandoghdar und Jürgen Mlynek | 
        
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              |  | 18:00 | O 20.8 | Photolumineszenz Raster Nahfeldmikroskopie (SNOM) mit unbedampften Faserspitzen — •D. Pahlke, F. Poser, M. Pristovsek, E. Steimetz und W. Richter | 
        
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              |  | 18:15 | O 20.9 | Interne Reflexionsanordnung der Nahfeldmikroskopie mit der Tetraedersonde an metallischen Objekten — •U.C. Fischer, J. Ferber und H. Fuchs | 
        
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