Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.36: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

Elektrochemische Oberflächenuntersuchung an Metallclustern mittels Pulsed Force Mode — •M. Ott, Th. Stifter, S. Hild und O. Marti — Abteilung Experimentelle Physik, Universität Ulm, D-89069 Ulm

Der Betrieb eines Rasterkraftmikroskops im Pulsed Force Mode erlaubt die gleichzeitige Aufnahme mehrerer Meßgrößen mit hoher lateraler Auflösung. Neben Topographie können simultan weitere Oberflächenparameter ermittelt werden, welche sonst nur über Kraft-Distanz-Kurven zugänglich sind. Von Vorteil im Pulsed Force Mode ist dabei die exakte Bestimmung der Maximalkraft und damit die quantitative Ermittlung von Werten für Adhäsion, Steifigkeit und elektrostatischer Wechselwirkung. Vor allem in der Elektrochemie ist die Möglichkeit der Charakterisierung elektrostatischer Wechselwirkungen von Interesse. Als Modellsystem werden Metallcluster in verschiedenen Elektrolytlösungen untersucht. Anhand dieses Probensystems wird der Einfluß der elektrochemischen Parameter auf die mit dem Pulsed Force Mode zugänglichen Meßgrößen aufgezeigt.