Münster 1999 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 41: Methodisches (Experiment und Theorie) (II)
O 41.3: Vortrag
Freitag, 26. März 1999, 11:45–12:00, S2
Phasensensitive Bestimmung des Segregationsprofils in dünnen Legierungsschichten — •W. Donner1, B. Nickel1, B. Toperverg2 und H. Dosch1,3 — 1Max-Planck-Institut für Metallforschung, Heisenbergstr. 1, D-70569 Stuttgart — 2Theoretical Dept., Petersburg Nuclear Physics Inst., Russian Academy of Sciences, Gatchina, 188350 St. Petersburg — 3Inst. f. Theoret. und Angew. Physik, Univ. Stuttgart, 70550 Stuttgart
Oberflächensegregation in binären Legierungsschichten spielt in vielen Bereichen der Technik, etwa der Elektronik oder Katalyse, eine große Rolle. So kann es für die Reaktivität eines Materials entscheidend sein, welche der beiden Komponenten sich an der Oberfläche angereichert hat. Wir haben an einem Modellsystem, der Legierung FeCo, eine Methode entwickelt, mit der auf atomarer Skala das Konzentrationsprofil in einem dünnen Film auf einem Substrat bestimmt werden kann. Dabei kann experimentell unterschieden werden, welcher der beiden Legierungspartner an der Oberfläche bzw. an der Grenzfläche zum Substrat eine höhere Konzentration als im Volumen aufweist. Die Methode basiert auf der Crystal Truncation Rod Diffraction und nutzt die phasengerechte Aufsummierung aller Streuamplituden in einem Röntgenstreuexperiment unter Verwendung einer Referenzphase. Experimentelle Ergebnisse zu temperaturabhängigen Segregationsprofilen in einem ca. 30nm dicken FeCo-Film werden präsentiert.