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Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 21: Postersitzung III: Hochfrequenzeigenschaften (1-4), Amorphe Systeme (5-9), Borkarbide (10-18), Quantenflüssigkeiten (19-25), Dünne Filme (26-49), Vortexdynamik, Pinning (50-63), M-I-Überg
änge, quantenkritische Ph
änomene (64-89)

TT 21.82: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 14:30–18:00, Foy

Untersuchungen der CDW-Systeme K0.3MoO3 und (TaSe4)2I mittels dielektrischer Spektroskopie und DC-Leitfähigkeitsmessung — •k. hosseini1, w. brütting1, m. schwoerer1, e. riedl2 und s. van smaalen21Experimentalphysik II, Universität Bayreuth, D-95440 Bayreuth — 2Kristallographie, Universität Bayreuth, D-95440 Bayreuth

Die Wechselwirkung der Ladungsdichtewelle (Charge Density Wave, CDW) mit verschiedenen Pinning- Potentialen und die Abschirmung letzterer durch thermisch angeregte Ladungsträger bestimmen die besonderen physikalischen Eigenschaften der CDW unterhalb der Peierlsübergangstemperatur Tp. Unordnung und das Fehlen langreichweitiger Ordnung führen zu einer Verteilung von Energiezuständen für die unterschiedlichen gepinnten Konfigurationen der CDW sowie der Möglichkeit zu thermisch induzierten Übergängen zwischen den verschiedenen energetisch benachbarten Zuständen. Durch temperaturabhängige breitbandige dielektrische Spektroskopie (10 - 280 K, 10−2 - 107 Hz) an den CDW-Systemen K0.3MoO3 und (TaSe4)2I unterhalb der Peierlstemperatur Tp, konnte eine Aufspaltung des Hauptrelaxationsprozesses beim Abkühlen in 2 Prozesse beobachtet werden. Während die Relaxationszeit des ersten Prozesses (α-Prozess) mit abnehmender Temperatur divergiert, verhält sich die Relaxationszeit des zweiten Prozesses (β-Prozess) thermisch activiert , was einem Tunnel-Mechanismus der kollektiven Anregungen der Solitonen in der CDW entspricht. Dieses Verhalten kann als glasartiger Zustand in der CDW interpretiert werden . Die Korrelation mit elektrischen Messungen (DC-Leitfähigkeit, nichtlineare Leitfähigkeit), führt zum besseren Verständnis des Ladungstansports in CDW-Systemen.

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