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A: Atomphysik

A 14: Edelgas– und Molekülcluster (gemeinsam mit dem FV Molekülphysik)

A 14.6: Talk

Wednesday, April 5, 2000, 10:15–10:30, HS VIII

Hochaufloesende Elektronenstossionisation von Edelgasclustern (Ne, Ar, Kr, Xe) und H2 Clustern — •Gernot Hanel, Thomas Fiegele, Michael Ruemmele, Aleksandar Stamatovic, Paul Scheier und Tilmann Maerk — UNI Innsbruck Inst. f. Ionenphysik Technikerstr. 25 6020 Innsbruck

Eine hohe Energieaufloesung der Elektronen ist Voraussetzung fuer die genaue Bestimmung von Auftrittsenergien. Die in Innsbruck vor kurzem aufgebaute Apparatur (hemisphaerischer Elektronenmonochromator und Duesenstrahlclusterquelle in Verbindung mit einem Quadrupolmassenspektrometer) verfuegt ueber eine optimale Aufloesung von ca. 30meV. Im Bereich der Schwelle wird der Elektronenstoss-Ionisations-Wirkungsquerschnitt von Edelgasclustern (Ne, Ar, Kr, Xe) und H2 Clustern bis zu einer Clustergroesse von 15 gemessen. Aus den Daten wird mit Hilfe zweier neuer Analysemethoden die Auftrittsenergie bestimmt. Die Methoden unterscheiden sich im wesentlichen durch die Beruecksichtigung der Elektronenenergieverteilung. Vor allem fuer Ne- und Xe-Cluster sind keine genauen Werte fuer Auftrittsenergien von Clustern n>2 bekannt. Die Ar und Kr Daten koennen mit frueheren Photoionisationsmessungen verglichen werden. Unterschiedliche Auftrittsenergien zwischen Elektronenstoss- und Photoionisation werden auf Unterschiede im Ionisierungsmechanismus zurueckgefuehrt. Gefoerdert von FWF, BMWF, Wien, Oesterreich.