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A: Atomphysik

A 18: Atom–/Ion–Oberflächen Wechselwirkungen

A 18.2: Talk

Thursday, April 6, 2000, 14:45–15:00, HS IV

Sekundärionenemission in Abhängigkeit der Targettemperatur — •Roman Neugebauer^1,2, T. Jalowy¹, K.O. Groeneveld¹, J.A.M. Pereira³ und E.F. da Silveira³ — ¹Institut für Kernphysik der J.W.Goethe Universität, August-Euler-Str. 6, D-60486 Frankfurt am Main, Germany — ²Gesellschaft für Schwerionenforschung mbH, Planckstr. 1, D-64291 Darmstadt, Germany — ³Depto. de Fisica, Lab. Van de Graaff, PUC-Rio, CP38071, Rio de Janeiro, Brasil

Ein schnelles Projektil deponiert beim Durchqueren eines Festkörpers einen Teil seiner kinetischen Energie entlang der Projektil-Trajektorie. Dies führt zur Entstehung einer zylinderförmigen Teilchenspur im Festkörper und zur Emission von Sekundärteilchen (z.B. Elektronen, Ionen, etc.) von der Festkörperoberfläche. Die Untersuchung der Sekundärionen kann zum besseren Verständnis der Entstehung von Teilchenspuren dienen. Da der Ursprung und das Verhalten der Sekundärionen bisher noch unverstanden sind, werden weitere Daten über die Emission der Sekundärionen notwendig.
Mit einem neuentwickelten Targethalter mit kontrollierter Temperatur und mit einem TOF-Spektrometer unter HV-Bedingungen wurden die Sekundärionen- und Sekundärmolekülionen-Ausbeuten von einem Cu- (Leiter)und einem LiF+Cu- Target (Nichtleiter) als Funktion der Targettemperatur untersucht.
Das erstaunlich unterschiedliche Emissionsverhalten der leichten Sekundärionen (Masse m < 8) und der schweren Sekundärmolekülionen werden vorgestellt und diskutiert.
gefördert durch GSI-Darmstadt & DAAD-Bonn