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A: Atomphysik

A 18: Atom–/Ion–Oberflächen Wechselwirkungen

A 18.3: Talk

Thursday, April 6, 2000, 15:00–15:15, HS IV

Spektrometer zur impulsaufgelösten Sekundärteilchen-Analyse — •T. Jalowy¹, R. Neugebauer¹, J. Fiol², H. Schmidt-Böcking¹ und K.O. Groeneveld¹ — ¹Institut für Kernphysik der J.W.Goethe Universität, August-Euler-Str. 6, D-60486 Frankfurt am Main, Germany — ²Centro Atómico, Bariloche, Argentinien

Zum Studium der Emissionsprozesse in Ion-Festkörper-Stößen wurde ein neuartiges Spektrometer entwickelt. Dessen Prinzip basiert auf dem erfolgreich in Ion-Atom-Experimenten eingesetzten Meßsystem COLTRIMS und wurde im wesentlichen von der Arbeitsgruppe Schmidt-Böcking in Frankurt a.M. entwickelt. Der Kreuzungspunkt von Projektilstrahl und Target befindet sich in einem wohldefinierten elektrostatischen Feld. Durch die entsprechende Polarität können die in dem Stoß von Projektil und Target entstehenden Sekundärelektronen oder -ionen auf 2-dimensionale ortsempfindliche Multi-Hit-Detektoren gelenkt und nachgewiesen werden. Aus den gemessenen Positionen und den in Koinzidenz mit dem gestreuten Projektil gemessenen Flugzeiten der Stoßfragmente können die 3-dimensionalen Impulskomponenten der beteiligten Partner bestimmt werden. Sogar experimentell bisher schwer zugängliche kleine Elektronenimpulse können, unter optimalen experimentellen Bedingungen bis hin zu 0 a.u., in guter Auflösung erfaßt werden. Die Untersuchung der Emissionscharakteristik von Sekundärelektronen und -ionen ist von zentralem Interesse. Es werden die Ergebnisse der ersten Tests und Experimente vorgestellt.

gefördert durch DFG-Bonn und BMBF in DLR-Bonn