Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm
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M: Metallphysik
M 11: Wasserstoff in Metallen
M 11.7: Vortrag
Donnerstag, 30. März 2000, 12:00–12:15, H16
Spannungsmessungen und Röntgenbeugung an dünnen Y-Filmen bei Beladung mit Wasserstoff — •M. Dornheim1, A. Pundt1, H. Harms2, U. Geyer2, S.J. van der Molen3, S. Kooij3, J. Kerssemakers3, R. Griessen3 und R. Kirchheim1 — 1Institut für Materialphysik, Universität Göttingen, Hospitalstrasse 3-7,D-37075 Göttingen — 21. Physikalisches Institut , Universität Göttingen, Hospitalstrasse 3-7,D-37075 Göttingen — 3Phys. Department, Faculty of Sciences, Vrije Universiteit, De Bolelaan 1081, 1081 HV Amsterdam, Nl
Es wurden Spannungsmessungen und Röntgenuntersuchungen an Y-Filmen auf Saphirsubstraten bei Be- und Entladung mit Wasserstoff durchgeführt. Eine Deckschicht von 30 nm Pd schützt die Filme vor Oxidation. Die lateralen Spannungen wurden mittels einer Laserlichtzeiger-Biegemeßapparatur, die Dehnungen mittels Röntgenbeugung bestimmt. Aus Literaturdaten von massiven Y-Proben und einem eindimensionalen elastischen Modell schließen wir für den Fall einer ideal auf einem festen Substrat haftenden Y-Schicht auf eine Anstieg der Kompressionsspannungen gegenüber der Konzentration um -2,5 GPa/[NH/NY] in der α-Phase, einen Anstieg um -0,6 GPa/[NH/NY] im α/β-Zweiphasengebiet und ein Absinken der Kompressionsspannungen in der β-Phase sowie im β/γ-Zweiphasengebiet. All diese Spannungsverläufe konnten in den Messungen bestätigt werden. Darüberhinaus ließ sich ein bemerkenswerter Unterschied der Spannungsverläufe bei Be- und Entladung feststellen.
Diese Messungen wurden im Rahmen des TMR-Projektes Switchable Metal-Hydride Films durchgeführt.