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O: Oberflächenphysik

O 24: Rastersondentechniken (III)

O 24.2: Talk

Wednesday, March 29, 2000, 14:45–15:00, H44

Rasterkraftmikroskopie im Vakuum mit atomarer Auflösung — •F.J. Giessibl, H. Bielefeldt, S. Hembacher, U. Mair und J. Mannhart — Experimentalphysik VI, EKM Institut für Physik, Universität Augsburg, D-86135 Augsburg

Seit einigen Jahren ist es möglich, Oberflächen mit dem Kraftmikroskop mit atomarer Auflösung abzubilden.
Ursprünglich wurde dazu ein Federbalken mit einer Amplitude von ca. 10 nm in der Nähe einer Oberfläche oszilliert und die Änderung seiner Eigenfrequenz als bildgebendes Signal verwendet. Aus dieser großen Amplitude resultiert eine große Empfindlichkeit für langreichweitige Kräfte. In der atomar aufgelösten Kraftmikroskopie sind dagegen vor allem die kurzreichweitigen Kräfte relevant. Außerdem erwartet man ein optimales Signal-Rauschverhältnis für Amplituden von 0.3-1 nm [1].
Mit einem neuen, auf einer Quarzstimmgabel basierenden Kraftsensor ist es gelungen, atomare Auflösung auf der Si (111)-(7x7) Oberfläche mit einer Amplitude <1 nm zu erzielen.
Diese Arbeit wurde vom BMBF (Projekt Nummer 13N6918/1) gefördert.

[1] F. J. Giessibl, H. Bielefeldt, S. Hembacher, J. Mannhart, Appl. Surf. Sci. 140, 352 (1999)