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O: Oberflächenphysik
O 24: Rastersondentechniken (III)
O 24.7: Talk
Wednesday, March 29, 2000, 16:00–16:15, H44
Tiefere Einsichten in TappingModeTM Rasterkraftmikroskopie — •A. Knoll, R. Magerle und G. Krausch — Universität Bayreuth, Physikalische Chemie II, D-95440 Bayreuth
Die Untersuchung von weichen Materialien mit Rasterkraftmikroskopie ist durch die Einführung des TappingModeTM bzw. Intermittent Contact Mode möglich geworden. Auf Proben mit Domänen unterschiedlicher Materialien wie z.B. Polymerblends oder Blockcopolymeren liefert die Phaseninformation zusätzlich zur Topographie Informationen über laterale Unterschiede der Materialeigenschaften. Die quantitative Interpretation der Ergebnisse ist jedoch schwierig, da sowohl die Höheninformation wie auch die Phaseninformation abhängig von den im Experiment gewählten Abbildungsparametern sowie der lokalen Geometrie der Probe und der Spitze ist. Lateral aufgelöste Untersuchungen der Abstandsabhängigkeit von Amplitude und Phase auf inhomogenen Polymerproben erlauben ein quantitatives Verständnis der beobachteten Umkehr des Phasen- und Höhenkontrasts. Die Messungen ermöglichen weiter eine wesentlich genauere Bestimmung der „wahren“ Topographie der Oberfläche und liefern zusätzliche Informationen über die Materialeigenschaften der Probe.