Regensburg 2000 – scientific programme

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SYUO: Ultrakurzzeitdynamik an Oberflächen

SYUO 6: Poster

SYUO 6.4: Poster

Thursday, March 30, 2000, 11:00–19:00, Bereich C

Winkelaufgelöste Elektronendynamik der Bildladungszustände von Cu(100) — •W. Berthold¹, P. Feulner² und U. Höfer^1,3 — ¹Max-Planck-Institut für Quantenoptik, D-85748 Garching — ²Physik-Department E20, Technische Universität München, D-85747 Garching — ³Fachbereich Physik, Philipps-Universität Marburg, D-35032 Marburg

Die Lebensdauer der Bildladungszustände von Cu(100) wurde mit zeitaufgelöster Zweiphotonen-Photoemission in Abhängigkeit von der Hauptquantenzahl n und dem Parallelimpuls k_∥ untersucht. Elektronen in Bildladungszuständen sind nur senkrecht zur Oberfläche gebunden und können sich parallel dazu fast frei bewegen. Während diese Zustände in normaler Emission sehr gut untersucht sind, gibt es erst wenige Experimente, bei denen der Parallelimpuls variiert wurde. Wir beobachten, daß die Zerfallszeit τ des Kreuzkorrelationssignals mit wachsendem k_∥ stark abnimmt. Wir finden für den n=1 Zustand τ=23 fs bei k_∥=0.3 Å⁻¹ gegenüber τ=40 fs bei k_∥=0. Die Zerfallsrate 1/τ des n=2 Zustands zeigt eine um den Faktor 6 schwächere Abhängigkeit vom Parallelimpuls. Das Verhältnis der Lebensdauern in normaler Emission beträgt dagegen 3 (120 fs (n=2) : 40 fs (n=1)). Darüber hinaus beobachten wir eine effiziente Streuung zwischen Bändern mit verschiedener Hauptquantenzahl n, wobei große Impulswerte aber nur kleine Energien übertragen werden. Wir diskutieren Relaxationsprozesse sowohl in das Metallvolumen als auch innerhalb des Systems der Bildladungszustände und betrachten Streuung an Elektronen, Phononen und Defekten.