Regensburg 2000 – wissenschaftliches Programm
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 12: Fachsymposium: Korngrenzen in HTSL
TT 12.5: Vortrag
Dienstag, 28. März 2000, 16:15–16:30, H18
Verbesserung der kritischen Stromdichten von Korngrenzen in YBa2Cu3O7−δ durch Dotierung — •A. Schmehl, B. Goetz, R. R. Schulz, C. W. Schneider, H. Bielefeldt, H. Hilgenkamp und J. Mannhart — Experimentalphysik VI, EKM, Institut für Physik, Universität Augsburg, D-86135 Augsburg
Die Begrenzung der kritischen Stromdichte durch Korngrenzen in
Hoch-Tc Supraleitern
stellt ein wesentliches Problem für viele technische Anwendungen dieser
Materialien
dar. Motiviert durch das Verständnis, daß neben der
d-Wellensymmetrie der
Hoch-Tc-Supraleiter Bandverbiegungen die Transporteigenschaften der
Korngrenzen stark
beeinflussen, führten wir experimentelle Untersuchungen zum Einfluß
von Dotierung
auf die Korngrenzeneigenschaften epitaktischer Schichten durch. Diese
Experimente
zeigen, daß durch Ca-Dotierung die kritische Stromdichte von
Korngrenzen in YBa2Cu3O7−δ Filmen im Vergleich zu den
bisher
bekannten Höchstwerten wesentlich gesteigert werden kann [1,2].
Weiterhin wird
durch die Ca-Substitution eine Reduzierung des Normalwiderstandes
der Korngrenzen um bis zu eine Größenordnung erreicht. Diese Arbeit
wurde vom
BMBF (Projektnummer 13N6918/1) gefördert.
[1] A. Schmehl, B. Goetz, R. R. Schulz, C. W. Schneider, H. Bielefeldt, H. Hilgenkamp und J. Mannhart, Europhys. Lett. 47, 110 (1999)
[2] C. W. Schneider, R. R. Schulz, B. Goetz, A. Schmehl, H. Bielefeldt, H. Hilgenkamp und J. Mannhart, Appl. Phys. Lett. 75, 850 (1999)