Hamburg 2001 – scientific programme

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HL: Halbleiterphysik

HL 17: Photovoltaik I

HL 17.1: Talk

Tuesday, March 27, 2001, 10:30–10:45, S17

Einfluß des ‘Damp Heat’-Tests auf die elektrischen Eigenschaften von Cu(In,Ga)(S,Se)₂-Solarzellen — •Carsten Deibel¹, Vladimir Dyakonov¹, Jürgen Parisi¹, Siegmund Zweigart², Jörg Palm³ und Franz Karg³ — ¹Abteilung Energie- und Halbleiterforschung, Fachbereich Physik, Universität Oldenburg, 26111 Oldenburg — ²Siemens AG, ZT EN 2, 81739 München — ³Siemens Solar GmbH, 81739 München

Der Einfluß hoher Luftfeuchtigkeit und Temperatur auf die Kenngrößen von Dünnschichtsolarzellen mit Cu(In,Ga)(S,Se)₂ wird mit dem ‘Damp Heat’-Test (DH) simuliert. Nach der DH Exposition nicht laminierter Zellen für 150h wird eine Reduktion der Leerlaufspannung um 13% und des Füllfaktors um ein Drittel beobachtet. Die Änderungen werden mit Admittanzspektroskopie, Transienter Störstellenspektroskopie (DLTS) und Strom–Spannungs-Kennlinien charakterisiert. Es zeigt sich, daß sich durch den DH die Dotierkonzentration des Absorbermaterials verringert. Zudem entsteht eine dominante tiefe Störstelle, deren räumliche Lage diskutiert wird.