Hamburg 2001 – scientific programme
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M: Metallphysik
M 33: Postersitzung
M 33.29: Poster
Thursday, March 29, 2001, 15:15–19:00, Foyer S4, CCH
Charakterisierung nanokristalliner, mit Deuterium beladener Ni-Schichten mit Hilfe der Tomographischen Atomsonde (TAP) — •Pyuck-Pa Choi, Talaáat Al-Kassab und Reiner Kirchheim — Universität Gẗtingen, Hospitalstr. 3-7, 37073 Göttingen
Die Mikrostruktur von elektrolytisch abgeschiedenen, nanokristallinen
Nickel-Schichten, die mittels Gasvolumetrie mit Deuterium beladen wurden,
wurde mit Hilfe der Tomographischen Atomsonde (TAP) charakterisiert. Das
TAP erlaubt eine chemisch quantitative, räumlich aufgelöste Analyse von
Metallen auf einer Subnanometerskala und eignet sich somit gut für die
mikrostrukturelle Charakterisierung von nanokristallinen Materialien.
Färber [1] konnte mit Hilfe des TAP zum ersten Mal direkt die
kontinuierliche Segregation von Phosphor in Korngrenzen und Tripelpunkten
in nanokristallinen Ni- 3,6 at% P -Legierungen nachweisen. Die hohe
thermische Stabilität der Ni-P -Proben konnte durch ein metastabiles
Gleichgewicht zwischen der fcc Ni-Phase und einer P-reichen Korngrenzphase
und die daraus resultierende verzögerte Bildung der
Ni3P-Gleichgewichtsphase erklärt werden. Ziel der aktuellen
Arbeit ist es, die Verteilung des Deuteriums innerhalb der Mikrostruktur zu
klären und einen Vergleich zum System Ni-P hinsichtlich des Einflußes
des Segreganden auf das Kornwachstum zu erstellen.
[1] Färber, B., Cadel, E., Menand, A., Schmitz, G., Kirchheim, R., Acta
Mater., 48 (3), 789-796, 2000