Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)

O 25.34: Poster

Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B

Interpretation von Rastersondenmikroskopiedaten mit der Wavelettransformation — •Sybille Frank, Jörn Kutscher, Sabine Hild, and Othmar Marti — Experimentelle Physik, Uni Ulm

Die Bestimmung der Orientierung von Oberflächenstrukturen ist von großer Bedeutung in der Oberflächenanalytik. Man ist hier noch vom rein optischen Eindruck der Probe abhängig. Bei Rasterkraftmikroskopiedaten versagen die herkömmlichen Methoden zur Bestimmung von Orientierung und Strukturanalyse, da diese Daten oft Unterstrukturen aufweisen, welche fehlerhafte Resultate liefern.

Wünschenswert wäre eine Methode, bei welcher auf unterschiedlicher Skala der Strukturen einer Aufnahme berücksichtigt werden könnten. Die Waveletanalyse ist hierbei ein vielverspechender Ansatz. Durch die sogenannte Multi-Skalen-Analyse wird das Bild in Hoch- und Tiefpassanteile, d.h. kleine und große Strukturen auf verschiedenen Skalen zerlegt, wobei die Ortsinformation nicht verlorengeht. Zusätzlich bevorzugen die Wavelets Richtungen parallel zu den Koordinatenachsen. Der Hochpassanteil gliedert sich in drei Anteile, den horizontalen, vertikalen und einen diagonalen Anteil. Die so entstandenen Koeffizientenmatrizen sind ein Maß für die Änderung der Daten auf der jeweiligen Skala und am jeweiligen Ort.

Werden diese Matrizen weiteren statistischen Analysen, wie Berechnung der co-occurrence Matrizen und anderer Methoden unterzogen, können weitere Strukturmerkmale, wie zum Beispiel die Orientierung ermittelt werden. Erste Resultate dieser waveletbasierten Analyse an verschiedenen Oberflächen werden vorgestellt.