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O: Oberflächenphysik
O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)
O 25.39: Poster
Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B
Entwicklung, Aufbau und Integration eines digitalen Pulsed Force Modes für die Rastersondenmikroskopie — •Detlef Sanchen, Peter Spizig und Joachim Koenen — WITec GmbH, Hörvelsingerweg 6, 89081 Ulm
In der Mikro- und Nanotechnologie wird es zunehmend wichtiger, nicht nur detaillierte Aussagen über die Topographie, sondern auch über physikalische Eigenschaften zu machen. Mit dem Pulsed Force ModeTM sind bereits Aussagen über die lokale Steifigkeit sowie über die Adhäsion der Probe zusätzlich zur Topographie möglich.
Durch die Weiterentwicklung des Pulsed Force Modes zur komplett digitalen Variante ist es nun möglich, weitere Eigenschaften abzubilden. Hierzu gehören neben einer verbesserten Methode zur Bestimmung der lokalen Steifigkeit z.B. die Energiedissipation beim Eindringen der Spitze in, sowie beim Wegspringen von der Probe. Abbildungen anderer Eigenschaften lassen sich durch zusätzliche Berechnungsalgorithmen mit wenig Aufwand hinzufügen.
Die direkte Kopplung des digitalen Pulsed Force Modes an einen Standard PC erlaubt es, alle zu einer Messung gehörenden Kraftkurven vollständig zu speichern, und diese anschließend einem aufwendigen Postprocessing zu unterwerfen. Einen Großteil der Auswertung kann der PC jedoch bereits in Echtzeit erledigen um so eine online Erfolgskontrolle zu ermöglichen.
Die hiermit verbundene höhere Flexibilität, sowie eine vereinfachte Handhabung machen den digitalen Pulsed Force Mode zu einer wertvollen Erweiterung für SPM Systeme.