Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 25: Postersitzung (Grenzfl
äche fest-flüssig, Methodisches, Nanostrukturen, Organische Dünnschichten, Rastersondentechniken, reine Oberfl
ächen, Teilchen und Cluster, Zeitaufgelöste Spektroskopie, Sonstiges)

O 25.42: Poster

Mittwoch, 28. März 2001, 15:00–18:00, Foyer zu B

Mechanische Oberfächeneigenschaften von Polymeren untersucht mit dem PFM-Mode — •K. Schroth, S. Hild und O. Marti — Abt. Experimentelle Physik, Universität Ulm

Die Bestimmung von Oberflächeneigenschaften ist ein wichtiges Aufgabengebiet der modernen Materialforschung geworden. Die Rasterkraftmikroskopie bietet hierzu eine Methode zur Untersuchung von Oberflächen auf mikroskopischer Skala. Der Pulsed Force Mode erlaubt es, Topographie und Oberflächeneigenschaften, wie Adhäsion und lokale Steifigkeit gleichzeitig zu messen. Kraftdistanzkurven werden durch eine sinusförmige Anregung des Piezos im Bereich von 0,1-5kHz und einer Amplitude von 10-500nm erzeugt und dabei charakteristische Punkte aufgezeichnet.
Es werden Messungen der lokalen Steifigkeit chemisch identischer, aber unterschiedlich stark vernetzer Polymere vorgestellt. Bei der Quantifizierung der lokalen Steifigkeit dieser Materialien, gehen sowohl apparative Parameter, wie z.B. Cantilevereigenschaften, als auch experimentelle Parameter, wie z.B. Frequenz und Amplitude der Anregung oder Auflagekraft ein. Es wird gezeigt,daß Messungen an unterschiedlich vernetzten Polymeren, die mit verschiedenen apparativen und experimentellen Parametern durchgeführt werden, verglichen werden können.