Hamburg 2001 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

O: Oberflächenphysik

O 33: Methodisches (Experiment und Theorie)

O 33.5: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 16:30–16:45, M

Aufbau eines Fizeau-Interferometers zur in-situ Abbildung von Oberflächen — •S. Kaiser, T. Maier, A. Grossmann und C. Zimmermann — Universität Tübingen, Physikalisches Institut, Auf der Morgenstelle 14, D-72076 Tübingen

Moderne Phasen-Schiebungs-Interferometer erlauben die Abbildung von Oberflächen mit einer Höhenauflösung von wenigen Å. Das hier vorgestellte Fizeau-Interferometer ermöglicht darüber hinaus den Einsatz der Phasen-Schiebungs-Interferometrie im Ultrahochvakuum. Es basiert auf einem durchstimmbaren Diodenlaser in Littrow-Konfiguration. Mit dem Aufbau können Proben bis zu 1 Zoll Durchmesser mit einer Reproduzierbarkeit von λ/1000 vermessen werden.

Die Methode eignet sich nicht nur zur Charakterisierung von optischen Elementen, sondern auch zur Untersuchung von Festkörperoberflächen im Vakuum und damit zur Bestimmung von absoluten Oberflächenspannungen.