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Hamburg 2001 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 3: Rastersondentechniken (I)

Monday, March 26, 2001, 11:15–13:00, B

11:15 O 3.1 A new Intermediate Contact Mode for Near-Field Optical Microscopy — •Matthias Wellhöfer and Olaf Hollricher
11:30 O 3.2 Optische Nahfeldspektroskopie an Metallclustern mit Weißlichtanregung — •Jan Seidel, Stefan Grafström, Christian Loppacher, Frank Schlaphof, Sven Trogisch und Lukas Eng
11:45 O 3.3 Optische Nahfeldmikroskopie mit Farbzentren in Diamant-Nanokristallen — •V. Sandoghdar, S. Kühn, C. Hettich und C. Schmitt
12:00 O 3.4 Optische Rasternahfeldmikroskopie unter Flüssigkeiten — •Christiane Höppener, Daniel Molenda, Harald Fuchs und Andreas Naber
12:15 O 3.5 Optische Spektroskopie mit sub-nanometer Ortsauflösung — •Germar Hoffmann, Javier Aizpurua, Peter Johansson, Peter Apell und Richard Berndt
12:30 O 3.6 Untersuchung induzierter Defekte an STM-Spitzen mit Hilfe der Atomsonde — •Alexander Fian und Manfred Leisch
12:45 O 3.7 Adhesion and Wear of Pyrolytic Carbon Layers Investigated by Atomic Force Microscopy — •U. Sutter, A. Pfrang, W. Send, D. Gerthsen, and Th. Schimmel
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