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TT: Tiefe Temperaturen

TT 27: HTSL Bandleiter

TT 27.7: Talk

Friday, March 30, 2001, 11:45–12:00, H

Jc-Simulation von Korngrenzennetzwerken in Y123-Bandleitern — •Bernhard Holzapfel, Laura Fernandez, Frank Schindler und Bernd de Boer — Institut für Metallische Werkstoffe, Institut für Festkörper- und Werkstofforschung Dresden, Helmholtzstr. 20, 01069 Dresden

Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der es gestattet den kritischen Strom und den strombegrenzenden Pfad in realen Korngrenzennetzwerken von Y123-Bandleitern zu berechnen. Als Grundlage dient hierfür die wohlbekannte exponentielle Zwischenwinkelabhängigkeit der kritischen Stromdichte über Korngrenzen, die an idealisierten Kleinwinkelbikristallkorngrenzen bestimmt wurde. An biaxial texturierten Ni-Substratbändern wurden vor und nach der Beschichtung mit Y123 in einem gekennzeichneten Bereich ortsaufgelöst Texturlandkarten mittels EPSP (Electron BackScattering Pattern) erfasst und für die Simulation der kritischen Stromdichte und des strombegrenzenden Pfades benutzt. Die erhaltenen Werte stimmen gut mit experimentell bestimmten Stromdichten dieser Schichtbereiche überein. In einigen Bikristallexperimenten konnte bereits gezeigt werden, daß eine Ca-Dotierung der Y123 Schicht zu einer geringeren Winkelabhängigkeit der kritischen Stromdichte führen kann. Die Auswirkung einer derartigen Ca-Korngrenzendotierung auf die Stromtragfähigkeit von Y123 Bandleitern wurde durch entsprechende Simulationen untersucht.