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Q: Quantenoptik
Q 112: Optische Technik I
Q 112.1: Vortrag
Montag, 4. März 2002, 14:00–14:15, HS 22/108
Aufrüstung eines kommerziellen Wavemeters zur Steigerung der relativen Genauigkeit um bis zu 3 Größenordnungen — •Thomas Hackert1, Kai-Martin Knaak2, Peter Müller1, Stefan Götte1, Christopher Geppert1, Guido Ewald1 und Klaus Wendt1 — 1Institut für Physik, Universität Mainz — 2TEM-Messtechnik GmbH, Hannover
Bei Einsatz von kontinuierlichen schmalbandigen Lasern in Spektroskopie und Analytik ist in vielen Fällen die genaue Kenntnis der absoluten Laserwellenlänge von entscheidender Bedeutung. Derzeit verfügbare kommerzielle Wavemeter, die auf einem dynamischen Michelson Interferometer basieren, erreichen rel. Genauigkeiten bis 10−7.
In unserer Arbeitsgruppe verwenden wir einen neuen Ansatz zur Auswertung der Interferenzsignale, die ein vorhandenes Burleigh WA-20 Wavemeter (spezifizierte rel. Genauigkeit 10−6 ) über einen I/O Port zur Verfügung stellt. Statt Nulldurchgänge der Signale zu zählen und miteinander zu vergleichen, wird das Signal des Referenzlasers als Taktgeber zur digitalen Abtastung der Intensität des Probelasers verwendet. Man erhält abhängig von den Wellenlängendifferenzen ein Aliassignal, welches von einem Programm mittels integrierter Fit-Routine (Minuit) ausgewertet wird. Auf diese Weise erhält man bei ähnlicher Anzahl der aufgenommenen Datenpunkte eine Genauigkeit die, wie erste Tests gezeigt haben, um 2 bis 3 Größenordnungen größer ist, als die mit herkömmlicher Methode erreichbaren Werte.