Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 2: Elektrische und optische Eigenschaften II

DF 2.2: Vortrag

Montag, 11. März 2002, 15:10–15:30, 11

Ellipsometrische, elektrochrome und interferometrische Untersuchung elektrooptischer Polymere^* — •Nils Benter¹, Ralph P. Bertram¹, Karsten Buse¹, Rainer Hagen² und Serguei Kostromine² — ¹Physikalisches Institut der Universität Bonn, Wegelerstraße 8, 53115 Bonn — ²BAYER AG, 51368 Leverkusen

Ellipsometrische Methoden werden häufig als einfaches Verfahren eingesetzt, um in Kristallen und Polymeren elektrooptische Koeffizienten zu messen. Unsere Untersuchungen haben gezeigt, dass ellipsometrische Messungen sehr durch elektrochrome Effekte gestört werden können, wenn in der Nähe von molekularen Absorptionsbanden gemessen wird. Die elektrochromen Effekte ermöglichen jedoch selber mit Hilfe der Kramers-Kronig-Relationen eine einfache Bestimmung elektrooptischer Koeffizienten. Zur direkten Messung des elektrooptischen Effekts wurden auch interferometrische Messungen herangezogen. Dabei muss jedoch auf piezoelektrische Dickenänderungen des Materials besonders geachtet werden. Die Messmethoden wurden am Beispiel neuer elektrooptischer Polymere erprobt. Das verwendete Material basiert dabei auf den sogenannten „photoadressierbaren Polymeren“, die eigentlich für die optische Datenspeicherung entwickelt wurden. Die genannten Methoden erlauben es, auch in dünnen Proben (wenige 100 nm) noch elektrooptische Koeffizienten von wenigen pm/V zu messen. Die Untersuchungen werden in dem Vortrag vorgestellt, und auf die Vor- und Nachteile der einzelnen Untersuchungsmethoden wird im Vergleich eingegangen

^*Gefördert durch die Deutsche Telekom AG.