Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

DS: Dünne Schichten

DS 2: Elektrische und optische Eigenschaften II

DS 2.2: Talk

Monday, March 11, 2002, 11:15–11:30, HS 31

Elektronische Relaxationseffekte in dünnen In₂O₃-Filmen — •Annika Lohstroh¹, Michael Uhrmacher¹, Klaus-Peter Lieb¹ und H. Wulff² — ¹Universität Göttingen, II. Physikalisches Institut, Bunsenstr. 7-9, D 37073 Göttingen — ²Universität Greifswald, Institut für Chemie, Soldtmannstr. 23, D 17489 Greifswald

Messungen mit der Methode der gestörten Winkelkorrelation (PAC) zeigen ein dynamisches Verhalten, wenn sich die nächste Nachbarschaft der Sondenkerne innerhalb der Beobachtungszeit (Lebensdauer des isomeren Zustands) ändert. Das beobachtet man besonders mit radioaktiven ¹¹¹In Kernen, die durch Elektroneneinfang zum ¹¹¹Cd zerfallen, wenn in einem Halbleiter oder Isolator die Elektronenkonzentration zu gering ist, um die Nachwirkungen des Elektroneneinfangs schnell genug auszugleichen. Bei niedrigen Temperaturen sind die PAC-Spektren dynamisch gedämpft, wie man es bei vielen Oxiden unterhalb Raumtemperatur findet. Mit Hilfe von reaktiv im Magnetron aufgesputterten In₂O₃-Filmen wurde untersucht, ob das Substratmaterial (Metall, Halbleiter, Isolator) oder die Schichtdicke (Entfernung der Sonden vom möglichen Elektronendonator) das Dämpfungsverhalten der PAC-Spektren beeinflussen. Es zeigte sich, dass Verunreinigungen, Inhomogenität, Stöchiometrie und Struktur der In₂O₃-Filme einen grösseren Einfluss auf das Relaxationsverhalten haben als die Variation von Schichtdicke und Substratmaterial.

Gefördert durch DFG UH 104/1-1