Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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MA: Magnetismus

MA 4: Abbildungsverfahren

MA 4.4: Vortrag

Montag, 11. März 2002, 16:00–16:15, H10

Kalibrierung von MFM-Spitzen an wohldefinierten bit-Übergängen longitudinaler Speichermedien — •A. Carl¹, Chr. Bürgel¹, S. Kirsch¹, E.F. Wassermann¹, A. Dietzl² und H. Grimm² — ¹Gerhard-Mercator-Universität Duisburg, Tieftemperaturphysik, 47048 Duisburg — ²IBM Deutschland Speichersysteme GmbH, 55131 Mainz

Magnetkraftmikroskopische (MFM) Untersuchungen an wohldefinierten bit-Übergängen longitudinaler Speichermedien erlauben im Rahmen etablierter mikromagnetischer Modelle zur Beschreibung von bit-Übergängen die Charakterisierung der magnetischen Eigenschaften kommerzieller MFM-Spitzen vom Typ MESP (magnetic etched silicon probe). Die MFM-Spitze wid dabei als Punktsonde idealisiert. Aus MFM-Untersuchungen in Abhängigkeit der lift-Höhe der Spitze bestimmen wir das magnetische Dipolmoment bzw. das magnetische Monopolmoment der Spitze und deren imaginäre Positionen innerhalb der Spitze. Die Ergebnisse der Kalibrierung sind in ausgezeichneter Übereinstimmung mit Ergebissen früherer Spitzen-Kalibrierungen mit Hilfe stromdurchflossener Ringleiter und Leiterbahnen und sie bestätigen die Allgemeingültigkeit unserer Kalibrierungsmethode.