Regensburg 2002 – wissenschaftliches Programm

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SYME: Mechanical Properties of Thin Films

SYME III: HV III

Dienstag, 12. März 2002, 15:30–16:00, H 16

	15:30	SYME III.1	Hauptvortrag: In-situ Electron Microscopy Study of Dislocation Processes in Thin Metal Films — •Gerhard Dehm