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T: Teilchenphysik

T 203: Halbleiterdetektoren II

T 203.4: Talk

Tuesday, March 11, 2003, 14:45–15:00, FO8

Tests von Silizium-Streifen-Detektoren für den CMS-Detektor mit Hilfe des ARC-Systems — •Torsten Franke, Markus Axer, Franz Beißel, Prof. Günther Flügge, Stefan Kasselmann, Prof. Joachim Mnich, Dr. Andreas Nowack, Michael Pöttgens und Dr. Reiner Schulte — III. Physikalisches Institut B, RWTH Aachen

Im Rahmen des CMS-Experiments am zukünftigen Beschleuniger LHC am CERN sollen Silizium-Detektoren zur Spur- und Vertexerkennung eingesetzt werden. Dabei finden sowohl Si-Pixel- als auch Si-Mikrostreifen-Detektoren Verwendung. Vor dem Einbau in den CMS-Detektor ist es unerläßlich, sicherzustellen, dass alle Komponenten zuverlässig funktionieren. Im Rahmen dieser Qualitätssicherung sind Tests der Funktionalität der Frontend-Auslese-Elektronik sowie vollständiger Detektormodule (d.h. Auslese-Elektronik, Si-Streifen-Sensoren, elektrische Verbindungen, Trägerstrukturen) vorgesehen. In Aachen wird ein kompaktes System („ARC“) entwickelt, das alle notwendigen Hard- und Softwarekomponenten bereitstellt, die zum Test der Frontend-Elektronik bzw. eines fertigen Moduls notwendig sind. Die Frontend-Elektronik, das Test-System und einige Testergebnisse werden vorgestellt.