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T: Teilchenphysik

T 203: Halbleiterdetektoren II

T 203.5: Vortrag

Dienstag, 11. März 2003, 15:00–15:15, FO8

Testverfahren für Silizium-Detektormodule des CMS-Spurdetektors — •Jan Olzem — I. Physikalisches Institut B, RWTH Aachen

Von den rund 16.000 Silizium-Streifendetektoren für den CMS-Spurdetektor werden im Rahmen der Serienfertigung 1.888 Stück am I. Physikalischen Institut der RWTH Aachen verbondet. In einem an das Bonding der einzelnen Detektoren anschließenden Testverfahren wird deren Funktionstüchtigkeit überprüft.

Um die Zuverlässigkeit des Testverfahrens sicherzustellen, wurden Messungen an Detektoren mit künstlich präparierten Defekten vorgenommen. Untersucht wurde der Nachweis dieser Defekte insbesondere mit den Ergebnissen von Messungen des Sensorrauschens, Messungen von Kalibrationspulsformen, sowie mit Hilfe eines Infrarotlasers.