Parts | Days | Selection | Search | Downloads | Help

T: Teilchenphysik

T 203: Halbleiterdetektoren II

T 203.6: Talk

Tuesday, March 11, 2003, 15:15–15:30, FO8

Testsystem mit Infrarot LEDs für Silziumstreifendetektoren — •Th. Weiler, T. Barvich, P. Blüm, G. Dirkes, M. Fahrer, F. Hartmann, S. Heier, Th. Müller, W. Schwerdtfeger, H.J. Simonis und M. Waldschmitt — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe

In vielen modernen Teilchenphysik-Experimenten werden Siliziumstreifendetektoren zur präzisen Rekonstruktion von Teilchenspuren eingesetzt bzw. deren Einsatz geplant, so auch im CMS-Experiment am LHC. Hier soll der weltgrößte Siliziumspurdetektor, bestehend aus ca. 16000 Einzeldetektoren aufgebaut werden. Um eine schnelle und zuverlässige Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Detektormoduls durchführen zu können, wurde ein preiswertes LED-Testsytem entwickelt. Der Aufbau des Testsystems und die Detektion verschiedener Fehler, wie sie in Siliziumstreifendetektoren vorkommen können, wird kurz vorgestellt. Desweiteren wird gezeigt, wie sich mit diesem System, durch konstante Beleuchtung mit infrarotem Licht, der Leckstrom eines Siliziumstreifendetektors kontrolliert erhöhen läßt, ohne den Detektor dauerhaft zu schädigen. Hiermit kann man die Strahlenschädigung des Detektors simulieren, wie sie nach längerer Betriebszeit des Detektors am LHC auftritt, und somit Defekte erkennen, die mit Standardmethoden (Rauschen, Kalibrationpulsen) nicht gefunden werden.