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T: Teilchenphysik

T 203: Halbleiterdetektoren II

T 203.7: Vortrag

Dienstag, 11. März 2003, 15:30–15:45, FO8

Signal-zu-Rausch Messungen an CMS-Mikrostreifendetektoren — •S. Heier, G. Dirkes, M. Fahrer, Th. Müller, P. Blüm, H.J. Simonis, M. Waldschmitt und Th. Weiler — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe (TH)

Nach der Produktion der ersten Siliziumstreifendetektoren für den CMS-Spurdetektor wurden die Eigenschaften dieser Module genau untersucht. Dazu wurden unter anderem detaillierte Messungen des Signal-zu-Rausch Verhältnisses (“Signal to Noise Ratio”, SNR ) durchgeführt.

Gemessen wurde die Abhängigkeit des SNR von verschiedenen Betriebsparametern der Module wie die Größe der Verarmungsspannung, Temperatur und verschiedene Leckströme.