Dresden 2003 – scientific programme

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HL: Halbleiterphysik

HL 18: SiC II

Tuesday, March 25, 2003, 11:00–11:30, BEY/118

	11:00	HL 18.1	High resolution x-ray diffraction measurements of 3C-SiC thin films grown on Ge modified Si (111) substrates — •petia weih, Volker Cimalla, Christian Förster, Jörg Pezoldt, and Oliver Ambacher
	11:15	HL 18.2	Elektrische Charakterisierung von 3C-SiC/Si(111) Heterodioden mit modifizierten Grenzflächen — •Christian Förster, Jörg Pezoldt, Thomas Stauden und Oliver Ambacher