Dresden 2003 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 31: Organische Dünnschichten II

O 31.12: Talk

Thursday, March 27, 2003, 17:45–18:00, HSZ/02

Oberflächenphotospannung an dünnen organischen Schichten auf einkristallinen Metall- und Halbleiteroberflächen — •Sebastian Teich, Stefan Grafström, Christian Loppacher, Ulrich Zerweck und Lukas Eng — Institut für Angewandte Photophysik, TU Dresden, 01062 Dresden

Untersucht werden Grenzflächen zwischen ultradünnen organischen Adsorbatschichten und anorganischen Halbleiter- und Metalloberflächen unter optischer Anregung. Dadurch erhalten wir Informationen über elektronische Zustände und Ladungsträgerdynamik an der Grenzfläche. Als zentrale Messgröße dient hierbei die Oberflächenphotospannung (SPV), die wir über verschiedene Methoden messen: Basierend auf der Photoelektronenspektroskopie wurde eine Methode entwickelt, die es mittels modulierter Lichteinstrahlung erlaubt, den Betrag der Photospannung mit < 1 mV Auflösung, aber auch die Phasenverschiebung der SPV gegenüber der Lichtanregung zu detektieren. Diese auf der makroskopischen Längenskala erhaltenen Ergebnisse bilden die Grundlage für die SPV-Charakterisierung auf der Nanometerskala mittels Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie. Ziel ist hier, ein detailliertes Verständnis der für den Ladungstransport über die Grenzfläche verantwortlichen Mechanismen auf atomarer Skala zu entwickeln.