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MS: Massenspektrometrie

MS 2: Analytik und Spurenanalytik (Laser)

MS 2.2: Vortrag

Montag, 22. März 2004, 14:45–15:00, HS 112

Aufbau und Charakterisierung eines Photoionisations-Massenspektrometers mit elementselektivem Nachweis — •Harald Bresch¹, Roman Flesch² und Eckart Rühl² — ¹Fachbereich Physik, Universität Osnabrück, Barbarastr. 7, 49069 Osnabrück — ²Institut für Physikalische Chemie, Universität Würzburg, Am Hubland, 97074 Würzburg

Es wird ein Photoionisations-Massenspektrometer vorgestellt, das auf einer intensiven, gepulsten, sehr einfach durchstimmbaren Lichtquelle im Bereich des extremen Ultraviolett (XUV, 25 eV ≤ hν ≤ 110 eV) beruht. Die XUV-Strahlung wird durch ein laserproduziertes Plasma (LPP) erzeugt, dessen Strahlung in einem Toroidgitter-Monochromator (Jobin-Yvon TGM 1400) dispergiert wird. Am Austrittsspalt befindet sich ein Flugzeitmassenspektrometer in einem Vakuum-Rezipienten, das zur Selektion und Detektion von Photoionen dient.
Mit diesem experimentellen Aufbau lassen sich Ausbeuten massenselektierter Kationen messen. Die Resultate zeigen, dass darüber hinaus auch Pump-Probe-Experimente zum elementspezifischen Nachweis von in situ gebildeten Photolyseprodukten möglich sind.