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O: Oberflächenphysik
O 9: Rastersondentechniken I
O 9.5: Vortrag
Montag, 8. März 2004, 16:45–17:00, H36
Optischer Nahfeldkontrast in anisotropen Dielektrika — •Susanne Schneider, Christian Loppacher, Ulrich Zerweck, Stefan Grafström und Lukas Eng — Institut für Angewandte Photophysik, TU Dresden, 01062 Dresden
Die aperturlose Nahfeldmikroskopie (s-SNOM) basiert auf der Wechselwirkung zwischen einem optisch streuenden Nanocluster (AFM-Spitze) und der zu untersuchenden dielektrischen Probe. Hierbei bestimmt die Größe des Clusters die erreichbare Auflösung des Mikroskops, welche im nm-Bereich liegt. Auf dieser Skala müssen die optisch anisotropen Eigenschaften der Probe mit berücksichtigt werden, selbst wenn sich diese makroskopisch gesehen isotrop verhält.
Dieser Beitrag diskutiert anhand des analytischen Dipol-Dipol-Modells die Wechselwirkung zwischen einem Cluster und einer anisotropen Probe. So zeigt sich z.B. für den im s-SNOM gemessenen Bildkontrast zwischen verschiedenartigen Domänen des ferroelektrischen Perowskits BaTiO3, dass gegenüber dem bekannten Spiegelladungsproblem in isotropen Dielektrika eine zusätzliche Spiegelflächenladung im Bulk des Ferroelektrikums angenommen werden kann, welche die Asymmetrie der Dielektrizitätskonstanten widerspiegelt.