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O: Oberflächenphysik

O 9: Rastersondentechniken I

Montag, 8. März 2004, 15:45–18:30, H36

15:45 O 9.1 Three-dimensional force fields of single wall carbon nanotubes by scanning dynamic force spectroscopy — •Makoto Ashino, Timo Behnke, Alexander Schwarz, Keith A. Williams, Cees Dekker und Roland Wiesendanger
16:00 O 9.2 Untersuchung der Volumen-Bandstruktur von Nb mittels Rastertunnelspektroskopie — •Berndt Koslowski, Christof Dietrich und Paul Ziemann
16:15 O 9.3 Bau eines kostengünstigen UHV-STM von Studierenden im Fortgeschrittenenpraktikum — •T.-Y. Kim, J. Grabowski, L. Amsel, F. Bechtel, N. Tschirner, I. Mantouvalou, F. Streicher, S.K. Becker, A. Lenz, R. Timm, K. Hodeck, G. Pruskil, H. Eisele und M. Dähne
16:30 O 9.4 Anisotropy of bulk band structure observed by electron scattering at subsurface impurities in Ag(111) — •A. Weismann, M. Wenderoth, N. Quaas, and R. G. Ulbrich
16:45 O 9.5 Optischer Nahfeldkontrast in anisotropen Dielektrika — •Susanne Schneider, Christian Loppacher, Ulrich Zerweck, Stefan Grafström und Lukas Eng
17:00 O 9.6 Warum die "shear force" Distanzregelung auch im UHV funktioniert — •S. Hoppe, G. Ctistis, J.J. Paggel und P. Fumagalli
17:15 O 9.7 Study of particle-substrate interaction by nanomanipulation experiments with dynamic scanning force microscopy — •Claudia Ritter, Markus Heyde, and Klaus Rademann
17:30 O 9.8 STM Imaging of PTCDA Multilayers with Submolecular Resolution — •Daniel Braun, Andre Schirmeisen, and Harald Fuchs
17:45 O 9.9 Damping mechanisms in dynamic force microscopy — •Andre Schirmeisen, Hendrik Hölscher, and Harald Fuchs
18:00 O 9.10 Observation of the complete graphite unit cell with a low-temperature atomic force microscope — •Stefan Hembacher, Franz J. Giessibl, Jochen Mannhart, and Calvin F. Quate
18:15 O 9.11 Atomic Force and Scanning Tunnelling Microscopy Measurements at Low Temperatures — •Markus Heyde, Maria Kulawik, Hans-Peter Rust, and Hans-Joachim Freund
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