Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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A: Atomphysik

A 8: Poster HU 1

A 8.16: Poster

Samstag, 5. März 2005, 08:30–18:30, Poster HU

Präzisionsmessungen an hochgeladenen Ionen mit dem Röntgenkristallspektrometer der Heidelberger EBIT. — •Johannes Braun und Hjalmar Bruhns — Max-Planck-Institut für Kernphysik Heidelberg

Um den Beitrag der QED zur Bindungsenergie zu bestimmen eignen sich besonders H- und Li- artige Ionen, da sie durch ihre kleine Anzahl an Elektronen eine verhältnismäßig einfache elektronische Struktur aufweisen. In der Heidelberger Electron Beam Ion Trap (EBIT) werden solche hochgeladenen Ionen erzeugt als auch gespeichert und mittels eines neu entwickelten Kristallspektrometers untersucht. Das Spektrometer verwendet ebene Kristalle und einen kryogenischen Detektor (CCD-Kamera) zum Nachweis der Röntgenstrahlung. Durch die Verwendung verschiedener Kristalle mit unterschiedlichen Gitterkonstanten ist es möglich, eine absolute Wellenlängenbestimmung allein anhand von Winkelmessungen durchzuführen. Zur Demonstration dieser Meßmethode wurde ²²Ti mit beschleunigten Elektronen zur Emission von Strahlung angeregt und die charakteristische K_{α 1}-Linie vermessen. Der Meßvorgang, der systematische Ausschuß von Fehlerquellen und wie die gewünschte Genauigkeit von 10ppm erreicht werden soll, werden dargestellt.