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T: Teilchenphysik
T 603: Halbleiterdetektoren III
T 603.8: Talk
Tuesday, March 8, 2005, 18:15–18:30, TU H112
Untersuchung des DEPFET Prototypsystems im Teststrahl — •Lars Reuen1, Lars Reuen1, L. Andricieck2, P. Fischer3, M. Harter3, M. Karagounis1, R. Kohrs1, H. Krüger1, G. Lutz2, H.G. Moser2, I. Peric3, R.H. Richter2, C. Sandow1, L. Strüder2, J. Treis2, M. Trimpl1, N. Wermes1, L. Andricieck2, P. Fischer3, M. Harter3, M. Karagounis1, R. Kohrs1, H. Krüger1, G. Lutz2, H.G. Moser2, I. Peric3, R.H. Richter2, C. Sandow1, L. Strüder2, J. Treis2, M. Trimpl1 und N. Wermes1 — 1Universität Bonn, Physikalisches Institut, Nussallee 12, 53115 — 2MPI Halbleiterlabor, Otto-Hahn-Ring 6, 81739 München — 3Universität Mannheim, Technische Informatik, D7, 68131
Für den Vertex-Detektor eines zukünftigen internationalen Linearbeschleunigers wurde ein Prototypsystem mit DEPFET-Pixel Technologie und schneller Auslese entwickelt. Das Verhalten dieses Systems mit einer 64 x 128 DEPFET-Matrix wurde im Januar 2005 in einem Teststrahl am DESY untersucht. Da die Auslese des DEPFET-Systems im Gegensatz zum Strahlteleskop triggerlos erfolgt, waren Modifikationen an beiden Systemen zur Eventsynchronisation notwendig. Der Teststrahlaufbau, die notwendigen Modifikationen am DEPFET-System sowie erste Teststrahlergebnisse werden im Vortrag vorgestellt.