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MS: Massenspektrometrie

MS 8: Methodische Entwicklungen der MS

MS 8.4: Talk

Thursday, March 16, 2006, 15:00–15:15, H1

Einfluss der chemischen Umgebung auf die ioneninduzierte Emission atomarer Bor- und Gadolinium-Neutralteilchen — •Guido Vering, Jan München, Christina Crone und Heinrich F. Arlinghaus — Physikalisches Institut, Universität Münster, Wilhelm-Klemm-Strasse 10, 48149 Münster

Beim Beschuss von Festkörperoberflächen mit Ionen im keV-Bereich liegt nur ein Teil der emittierten Sekundärteilchen ionisiert vor. Ein großer Teil ist jedoch neutral und kann nur durch Nachionisierung der massenspektrometrischen Untersuchung zugänglich gemacht werden. Ein besonders sensitives Verfahren stellt die resonante Multiphotonen Nachionisierung dar, bei der die Ionisation durch die Anregung elementspezifischer Eigenzustände erfolgt (resonante Laser-SNMS). Für verschiedene Elemente wurden bei Änderungen der chemischen Umgebung an der Festkörperoberfläche große Unterschiede in den mit resonanter Laser-SNMS nachweisbaren atomaren Neutralteilchenausbeuten beobachtet, die nicht allein durch Änderungen in der Stöchiometrie oder der Zerstäubungsausbeute zu erklären sind. Vielmehr scheint die Zusammensetzung des Neutralteilchenflusses aus zerstäubten Atomen, Clustern und Molekülen stark von der chemischen Situation der Festkörperoberfläche und den Beschussparametern abzuhängen. Im Rahmen der vorgestellten Untersuchungen wurde das Emissionsverhalten von Bor- und Gadoliniumatomen aus unterschiedlichen chemischen Matrizes betrachtet. Insbesondere wurde der Einfluss von Sauerstoff an der Oberfläche auf die Anzahl der nachweisbaren neutralen Atome untersucht, wobei Unterschiede von bis zu zwei Dekaden beobachtet wurden.