Düsseldorf 2007 – wissenschaftliches Programm

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MS: Fachverband Massenspektrometrie

MS 1: Massenspektrometrische Verfahren und neue Anwendungen

MS 1.2: Vortrag

Montag, 19. März 2007, 14:30–14:45, 5F

Einfluss der chemischen Umgebung auf die durch Ionenbeschuss induzierte Emission atomarer Sekundärneutralteilchen — •Jan München, Guido Vering und Heinrich Arlinghaus — Physikalisches Institut, Universität Münster, 48149 Münster, Germany

Die chemische Umgebung eines betrachteten Elementes beeinflusst in erheblichem Umfang sowohl den Ladungszustand, neutral oder intrinsisch ionisiert, der beim Ionenbeschuss von Festköreperoberflächen freigesetzten Sekundärteilchen als auch die atomare und molekulare Zusammensetzung des Sekundärteilchenflusses. Die neutralen Sekundärteilchen können durch die Wechselwirkung mit Photonen einer massenspektrometrischen Analyse zugänglich gemacht werden. Die Photoionisierung eines desorbierten Atoms kann, abhängig von der Photonenenergie, entweder resonant oder nichtresonant erfolgen. Bei Molekülen kann es zusätzlich auch zur Photofragmentierung bis hin zur Atomisierung kommen. Durch Variation der Nachionisierungsparameter kann der detektierte atomare Sekundärteilchenfluss eines Elementes bezüglich der verschiedenen Entstehungsprozesse unterschieden werden, was Rückschlüsse auf die Zusammensetzung des zerstäubten Sekundärteilchenflusses ermöglicht.

Bei der Analyse unterschiedlicher bor- und gadoliniumhaltiger Probensysteme wurden deutliche Unterschiede im Verhältnis der resonant generierten bzw. durch nicht-resonante Prozesse erzeugten Bor- bzw. Gadoliniumionen festgestellt. Dies deutet auf Photofragmentierung, der in unterschiedlichem Maß emittierten molekularen Sekundärteilchen hin.