Düsseldorf 2007 – wissenschaftliches Programm
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P: Fachverband Plasmaphysik
P 9: Diagnostische Methoden
P 9.4: Vortrag
Dienstag, 20. März 2007, 12:15–12:30, 6C
Absolute Intensitätskalibrierung des XUV/VUV Übersichts-Spektrometersystems HEXOS für Wendelstein 7-X — •Albert Greiche1, Wolfgang Biel1, Robert Wolf1,2 und Rainer Burhenn2 — 1Institut für Plasmaphysik, Forschungszentrum Jülich GmbH — 2Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, Greifswald
Verunreinigungen in magnetisch eingeschlossenen Fusionsplasmen können deren Eigenschaften stark beeinflussen. Deswegen ist es nötig, die Menge dieser Verunreinigungen zu überwachen und ihr Transportverhalten im Plasma zu studieren.
Das neue High Efficiency XUV Overview Spectrometer (HEXOS) System (2.5 nm - 160 nm) soll die Verunreinigungsemission am Stellarator Wendelstein 7-X überwachen und Verunreinigungstransport - Experimente ermöglichen. Während einer mehrjährigen Testphase am Tokamak TEXTOR soll der Einfluss des Dynamisch Ergodischen Divertors (DED) auf den Verunreinigungstransport untersucht werden.
Um eine Aussage über die Menge der Verunreinigungen im Plasma treffen zu können, benötigt man die absoluten Intensitäten der gemessenen Linien. Für eine absolute Intensitätskalibrierung des HEXOS-Systems wurde hauptsächlich eine absolut kalibrierte Hohlkathode als sekundäre Standardlichtquelle benutzt, die allerdings nur für einen Teil des Spektralbereiches (16 nm - 146 nm) eine Kalibrierung ermöglicht. Der restliche Spektralbereich ist nur über Verzweigungsverhältnisse von Linien kalibrierbar, die ein gemeinsames oberes Energieniveau besitzen ("branching-ratio" Methode). Dieser Vortrag stellt die Methode der Kalibrierung dar und diskutiert die Ergebnisse.