Heidelberg 2007 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 603: Halbleiterdetektoren V

T 603.3: Vortrag

Freitag, 9. März 2007, 17:20–17:35, KIP Gr. HS

Messung der Driftgeschwindigkeit und des Lorentzwinkels in bestrahlten Siliziumsensoren — Wim de Boer, Johannes Bol, Alexander Furgeri, •Michael Krause und Andreas Sabllek — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe (TH)

Die Transient Current Technique (TCT) ermöglicht es, das Driftverhalten von Ladungsträgern durch das Sensormaterial Silizium zu untersuchen. Durch Kühlen mit flüssigem Stickstoff, lassen sich Messungen zwischen 77K und 300K durchführen. Aus den gemessenen Driftzeiten kann die Mobilität von Ladungsträgern in Abhängigkeit der Strahlenbelastung eines Sensors für einen großen Temperaturbereich angegeben werden. Die Mobilität hat großen Einfluss auf die Ablenkung von driftenden Ladungsträgern in Sensoren bei hohen Magnetfeldern. Gemeinsam mit Untersuchungen des Hallstreufaktors, führen die Messungen zu einer genauen Bestimmung des so genannten Lorentzwinkels im Magnetfeld als Funktion der Strahlungsfluenz und der Temperatur. Seine genaue Kenntnis ist für die Spurrekonstruktion mit Hilfe moderner Halbleiterdetektoren unerlässlich.