Regensburg 2007 – wissenschaftliches Programm

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O: Fachverband Oberflächenphysik

O 17: Poster Session I (Nanostructures at Surfaces; Metal Substrates: Epitaxy and Growth; Methods: Scanning Probe Techniques; Phase Transitions)

O 17.51: Poster

Montag, 26. März 2007, 17:30–20:30, Poster C

Automatisierte Bildanalyse von Rasterkraftmikroskopieaufnahmen — •Christian Franke^1,2, Marcus Böhme², Enrico Kienel¹, Sabine Scherdel², Nicolaus Rehse² und Robert Magerle² — ¹Graphische Datenverarbeitung und Visualisierung, TU Chemnitz, D-09107 Chemnitz — ²Chemische Physik, TU Chemnitz, D-09107 Chemnitz

Mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie lässt sich die Strukturbildung von dünnen Blockcopolymerfilmen in situ beobachten. Für die Auswertung dieser Experimente ist eine umfassende Bildverarbeitung nötig, die eine quantitative Erfassung von Strukturen im Realraum erlaubt. Dabei kommen Algorithmen zur Filterung, Binarisierung und Skelettierung zur Anwendung. Da diese Art der Auswertung oft Wochen oder Monate in Anspruch nimmt, haben wir begonnen die Bildverarbeitung echtzeitfähig zu realisieren. Dazu wurden von uns einige effiziente Algorithmen implementiert, so dass schon während des Experiments charakteristische Defektstrukturen erkannt werden können. Das Ziel ist bereits während des Experiments auf Änderungen zu reagieren und so gezielt Parameter zu verändern, die die Strukturbildung beeinflussen. Weiterhin ist geplant, diese Algorithmen auch in der Nanotomographie einzusetzen, bei der ebenfalls große Mengen an Rasterkraftmikroskopiebildern anfallen.