Freiburg 2008 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 54: Halbleiterdetektoren I

Montag, 3. März 2008, 16:45–19:00, KGI-HS 1228

	16:45	T 54.1	Resultate eines Beamtests mit großflächigen „magnetic Czochralski (Mcz)“ Siliziumstreifensensoren — Tobias Barvich, Martin Frey, Alexander Furgeri, Frank Hartmann, Bernhard Ledermann, •Thiansin Liamsuwan, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
	17:00	T 54.2	Messungen an standardisierten Silizium-Testsensoren — Tobias Barvich, Martin Frey, Alexander Furgeri, Frank Hartmann, •Karl-Heinz Hoffmann, Bernhard Ledermann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
	17:15	T 54.3	Untersuchungen zur Oberflächenschädigung von Si-Sensoren durch Röntgenstrahlung — •Friederike Januschek, Hanno Perrey, Robert Klanner, Eckhart Fretwurst und Jolanta Sztuk-Dambietz
	17:30	T 54.4	Radiation Damage on MOS devices — •Qingyu Wei
	17:45	T 54.5	Untersuchungen zur Defektentwicklung in Siliziumdioden nach Bestrahlung mit Neutronen — •Alexandra Junkes, Ioana Pintilie, Eckhart Fretwurst und Gunnar Lindström
	18:00	T 54.6	Untersuchung der Strahlenschädigung von Protonen-bestrahlten epitaktischen Siliziumdetektoren — •Jörn Lange
	18:15	T 54.7	Untersuchungen zur Ladungssammlung in Siliziumdetektoren nach Neutronenbestrahlung — •Marie Kristin Bock
	18:30	T 54.8	Ein Mehrkanal-TCT Aufbau mit positions- und winkelabhängiger Ladungsinjektion hoher Intensität — •Julian Becker, Doris Eckstein, Georg Steinbrück und Robert Klanner
	18:45	T 54.9	Aufbau eines Messstandes zur Untersuchung von Strahlenschäden durch Röntgenstrahlung für XFEL Pixeldetektoren — •Hanno Perrey, Friederike Januschek, Robert Klanner, Eckhart Fretwurst und Fabian Renn