Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 60: Halbleiterdetektoren III

T 60.2: Vortrag

Mittwoch, 17. März 2010, 14:15–14:30, HG V

Charakterisierung von DEPFET Pixel-Matrizen mittels Teststrahlmessungen am CERN SPS — •Christian Geisler, Benjamin Schwenker und Ariane Frey — II. Physikalisches Institut, Universität Göttingen

An buchstäblich vorderster Front der Detektorentwicklung stehen Pixelvertexdetektoren. Hohe Ansprüche an Punktauflösung, geringen Leistungsbedarf und Permeabilität führen zu guter Vertex- und Spurrekonstruktion.

Ursprünglich für den ILC entwickelt kommt ein Vertexdetektor basierend auf der DEPFET Technologie, der diese Anforderungen exzellent erfüllt, für das Upgrade des Belle-Detektors des japanischen e⁺ e⁻ Beschleunigers SuperKEKB zum Einsatz.

Dieser Vortrag wird sich auf die Analyse von Teststrahlmessungen, die 2008/2009 am CERN mit hochenergetischen Pionen durchgeführt wurden, konzentrieren. Hierbei werden insbesondere Trefferrekonstruktionsalgorithmen, Alignment und Ergebnisse der Spurrekonstruktion vorgestellt. So werden die Eigenschaften des DEPFET aktiven Pixelsensors und seiner Auslesekette im Detail beleuchtet.