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Bonn 2010 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 60: Halbleiterdetektoren III

Wednesday, March 17, 2010, 14:00–16:30, HG V

14:00 T 60.1 Charakterisierung einer neuen Generation von DEPFET-Sensoren — •Simone Esch, Norbert Wermes, Manuel Koch, Lars Reuen, Hans Krüger, Sergey Furletov, Julia Furletova und Johannes Schneider
14:15 T 60.2 Charakterisierung von DEPFET Pixel-Matrizen mittels Teststrahlmessungen am CERN SPS — •Christian Geisler, Benjamin Schwenker und Ariane Frey
14:30 T 60.3 Extraction of Parasitic RC Parameters of a DEPFET Pixel Matrix — •Christian Koffmane, Ladislav Andricek, Christian Kreidl, Hans-Günther Moser, Jelena Ninkovic, Rainer Richter, Andreas Ritter, and Andreas Wassatsch
14:45 T 60.4 Hochauflösende Teststrahlmessungen mit dem DEPFET Teleskop — •Lars Reuen und Norbert Wermes
15:00 T 60.5 Detaillierte Simulation des Verhaltens der CMS Si-Streifen-Sensoren — •Jörn Schwandt, Doris Eckstein, Robert Klanner und Georg Steinbrück
15:15 T 60.6 Sensorsimulationen für zukünftige Siliciumdetektoren — •Matthias Bergholz
15:30 T 60.7 Entwicklung des USB-basierten Testsystems USBpix für die Auslesechips des ATLAS Pixeldetektors — •Malte Backhaus, Marlon Barbero, Fabian Hügging, Hans Krüger und Norbert Wermes
15:45 T 60.8 Operation experience with highly irradiated ATLAS FE-I3 SingleChipAssembliesClaus Gößling, •Silke Herbst, Reiner Klingenberg, Daniel Münstermann, André Rummler, and Tobias Wittig
16:00 T 60.9 Reduction of inactive edges of planar ATLAS pixel sensors for the IBL and Super-LHC upgradesClaus Gößling, Jennifer Jentzsch, Reiner Klingenberg, Daniel Muenstermann, André Rummler, •Tobias Wittig, and Renate Wunstorf
16:15 T 60.10 Vorstellung einer flexiblen Teststation für die Entwicklung und Qualitätssicherung von hochbestrahlten Silizium-Streifen-SensorenBernd Atz, Tobias Barvich, Felix Bögelspacher, Alexander Dierlamm, •Joachim Erfle, Frank Hartmann, Martin Frey, Karl-Heinz Hoffmann, Thomas Müller, Hans-Jürgen Simonis und Pia Steck
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