Bonn 2010 – wissenschaftliches Programm

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 62: Halbleiterdetektoren V

T 62.3: Vortrag

Freitag, 19. März 2010, 14:30–14:45, HG VI

Validation des DEPFET Pixel Digitizers an Teststrahlmessungen — •Benjamin Schwenker, Christian Geisler und Ariane Frey — II. Physikalisches Institut, Universität Göttingen

Für das geplante Belle II Experiment am KEK sind DEPFET Pixel Sensoren zur Vertexrekonstruktion vorgesehen. Zur Optimierung der Detektor Geometrie ist eine zuverlässige Simulation der DEPFET Sensoren erforderlich. Von besonderem Interesse ist hierbei eine realistische Abschätzung der erreichbaren Ortsauflösung für die geplanten 50x50x50µm³ Pixel. Wir präsentieren einen Vergleich zwischen Simulationen und Teststrahlmessungen ausgeführt am CERN SPS in den Jahren 2008/2009. Zur Verfügung standen ein DEPFET Teleskop mit Submikrometer Auflösung und ein DEPFET Testsensor mit 24x24µm² pitch und einer Dicke von 450µm. Die Anstellung des Testsensors gegenüber dem einfallenden Teilchenstrahl erlaubt eine Analyse von Clustergröße, Clustersignal und Ortsauflösung als Funktion des Einfallswinkels.