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Regensburg 2010 – scientific programme

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HL: Fachverband Halbleiterphysik

HL 27: GaN Preparation and Characterization

HL 27.4: Talk

Tuesday, March 23, 2010, 14:45–15:00, H15

Elektrische Messungen selbstorganisierter GaN Nanosäulen — •G. Kunert, C. Kruse, T. Aschenbrenner, S. Figge, D. Hommel, J. Kalden, K. Sebald und J. Gutowski — Institute für Festkörperphysik, Universität Bremen, Otto-Hahn-Allee 1, 28359 Bremen

In den letzten Jahren wurden die Eigenschaften von GaN-basierten Nanosäulen umfangreich untersucht. Die Herstellungsmethode des selbstorganisierten Wachstums ist wegen der daraus resultierenden sehr guten Kristallqualität (FWHM D0X=1,2 meV) anderen Verfahren teilweise überlegen. Der Prozess verwendet in r-Richtung (1102) geschnittenen Saphirsubstrate.
Zur Herstellung der Kristalle wird das Substrat in einem ersten Schritt mittels metallorganischer Dampfphasenepitaxie nitridiert. Dabei bilden sich AlN-Inseln auf der Substratoberfläche. In einem zweiten Schritt wird das Wachstum der Nanosäulen mittels Molekularstrahlepitaxie durchgeführt. Das Verfahren führt zu Nanosäulen welche um 28 zur Oberflächennormalen geneigt sind, sowie einer kompakten, zweidimensionalen Schicht, welche die Nanokristalle umschließt. Es wurden n-, p-Dotierungen, sowie p-n-Übergänge der Nanokristalle realisiert.
Eine Methode zur elektrischen Kontaktierung von Nanosäulen-Ensembles wird präsentiert. Elektrische Messungen zeigen ohmsche Kontaktcharakteristiken für beide Dotierungen. Bei 5V angelegter Spannung konnten Stromdichten von 10 A cm−2 (n-dotiert) bzw. 16 mA cm−2 (p-dotiert) erreicht werden. Diodenkennlinien von n-p-dotierten Nanosäulen werden diskutiert.

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