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MI: Fachverband Mikrosonden

MI 5: X-Ray Spectrometry and Tomography

MI 5.5: Vortrag

Dienstag, 15. März 2011, 11:00–11:30, BEY 81

Mikro-Röntgenfluoreszenz - Alternative oder Ergänzung zur Elektronenstrahlmikroanalyse? — •Michael Haschke, Ulrich Waldschläger, Uwe Rossek und Roald Tagle — Bruker Nano, 12489 Berlin, Deutschland

Mit der Verfügbarkeit von Röntgenoptiken wurde die Elementanalytik mit Hilfe der Röntgenfluoreszenz-Spektroskopie auch für kleine Probenareale möglich. Die Konzentration der anregenden Strahlung mit Hilfe von Kapillaroptiken sichert eine ausreichend hohe Anregungsintensität, um auch von kleinen Probenflächen hohe Fluoreszenzintensitäten zu gewinnen. Damit steht die µ-RFA im Wettbewerb zur Elektronenstrahl-Mikroanalyse. Dabei haben beide Methoden ihre speziellen Vorteile. Die Ortsauflösung wird wesentlich durch die Spotgrößen der anregenden Strahlung bestimmt. Diese ist durch die Fokussierbarkeit der Elektronen bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse deutlich besser. Andererseits ist die Empfindlichkeit für den Spurennachweis bei einer Anregung mit Röntgenstrahlung deutlich besser. Ein anderes Merkmal ist die Informationstiefe, die sich bei beiden Methoden unterscheidet und damit die möglichen Applikationen beeinflusst. Diese Parameter sowie auch die Bedingungen für die Messvorbereitung und -durchführung werden im Vortrag untersucht und deren Einfluss auf die analytische Leistungsfähigkeit diskutiert. Anhand von Beispielen werden die Möglichkeiten der Mikro-Röntgenfluoreszenz bei der Materialcharakterisierung vorgestellt.